當前位置:首頁 > 產品中心 > X射線衍射儀XRD > 大型高精度X射線衍射儀 > G670快速高精多晶X射線粉末衍射儀
簡要描述:德國HUBER公司生產的G670快速高精多晶X射線粉末衍射儀,精度高,可定制化程度高,ji大限度地豐富了X射線衍射儀的使用場景,擴大了使用范圍,該系統(tǒng)搭配不同的配置可分別實現(xiàn)“超微量、超高壓、超高溫、超低溫、單晶多晶測量"等全部研究需求。
相關文章
Related Articles詳細介紹
X射線衍射儀可在常規(guī)環(huán)境中無損分析樣品,進行物質的定性分析、晶格常數(shù)確定和應力測定等。并且,可通過峰面積計算進行定量分析。可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密X射線結構解析等各種分析。
德國HUBER公司生產的G670快速高精多晶X射線粉末衍射儀,精度高,可定制化程度高,ji大限度地豐富了X射線衍射儀的使用場景,擴大了使用范圍,該系統(tǒng)搭配不同的配置可分別實現(xiàn)“超微量、超高壓、超高溫、超低溫、單晶多晶測量”等全部研究需求。
以下將詳細為您介紹G670快速高精多晶X射線粉末衍射儀的特點
核心結構
Guinier Camera G670
Huber G670快速高精X射線粉末衍射儀*以Guinier幾何結構,提供了一種現(xiàn)代圖像板檢測方法(image plate)。
在許多Guinier相機中,有著100多年歷史的濕法影印技術已被逐步計數(shù)閃爍探測器和比例探測器所取代。雖然這使采集數(shù)字數(shù)據成為可能,但不能顯著減少測量時間,測量時間依舊保持在幾小時到幾天的范圍內。與此不同的是,使用Huber的圖像板檢測方法,可以在幾分鐘內獲得所需的數(shù)據。
與傳統(tǒng)的Guinier相機相似之處的是它的幾何結構和高分辨率——Huber G670已然是一款成熟的衍射儀。
成像原理——*的成像板技術
由聚酯制成的柔性安裝箔上涂有由晶體組成的均勻粉末的發(fā)光存儲材料(顆粒大小約0.005mm),即由氟化鋇和微量二價銪組成的光刺激熒光粉作為發(fā)光中心(BaFBr:Eu2+)。
圖像存儲箔片位于Guinier相機670中,敏感面向內,jing確地對準在半徑為90mm的焦圓上。它的曝光方式與以前使用的濕法影印技術相同。之后,在約5秒的時間內,用垂直的線性紅色二極管產生的激光束掃描成像板。
由此產生的藍色光激勵發(fā)光(PSL)從受X射線照射的區(qū)域發(fā)出,在掃描過程中由光電倍增管放大,然后記錄。初始的模擬信號通過一個16位的A /D轉換器轉換成數(shù)字計數(shù)。
通過白色鹵素燈,可以在10秒內擦除已儲存的圖像結構,并支持下一次成像。
除圖像存儲箔外,670相機的外殼還包括帶有光電倍增管和前置放大器的激光記錄單元,以及鹵素擦除燈。
這款小巧的Guinier粉末衍射儀集成了傳統(tǒng)的濕法影印技術的高分辨率,及圖像板檢測技術的高靈敏度。因此,它能夠在盡可能短的時間內提供數(shù)字粉末衍射圖,然后可以通過Rietveld分析或類似的方法進一步處理。
所提供的測量軟件在MS-Windows下運行,并將多可達20001個計數(shù)點的衍射圖文件存儲成各類標準文件格式。
組件
多種多樣的試樣架
平板粉末試樣架670.1是在正常實驗室條件下測定粉末試樣的標配。 在高光強下,它可以產生非常精細的理想峰。
將粉末固定在一個尺寸為10 x 20mm,6μm厚的聚酯箔上。X射線以45°的角度不對稱地穿透樣品表面,同時樣品在其平面內以約1Hz的振幅振蕩,振幅為10mm。此法消除了由不同晶向的粉末顆粒引起的強度變化。
Sample Changer 670.120
標準平板粉末試樣架670.1可換為多通道粉末樣品試樣架。配合非對稱的X射線,可裝載6份不同樣品。同時配備另一定位器,方便客戶測樣的同時進行制樣工作。經過步進電機的驅動,將樣品移動到測量位置,并在該位置附近提供連續(xù)的振蕩,類似于單樣品試樣架,運行頻率約為1Hz。
多樣品定位器可反復拆卸且操作簡單,位置偏差不超過0.01mm,因此小化了由于樣品位置不同帶來的誤差。電子硬件系統(tǒng)適配G670控制系統(tǒng),所有定位動作均由標準的G670程序控制。
基準調整裝置
Adjustment Base 601
對于除670.6外的所有相機配置,都需要基準調整裝置601。
它包括所有用于調整相機位置的工具和Guinier單色儀611。
根據X射線的輻射波長,可使用不同的晶體615/616,見單獨的產品冊。由于空間原因,激光加熱爐670.31和低溫器件670.4,需要使用616系列晶體。
單色器
Monochromator 611
Gunier單色器611有一個用于聚焦Johansson-Guinier型單色器晶體的底座。安裝在U形金屬框架內,因此可以很容易地插入和更換。
多功能外殼具有高定位自由度,這對微調在X射線管光束路徑上的晶體至關重要。
為了jing確限制x射線束的橫截面,設計了多種孔徑。
單色儀主要用于細聚焦X射線管( 0.4x8mm)的線路側,*濾除Kα2 。
Monochromator Crystals 615/616
Guinier 晶體單色器615/616參數(shù)
Huber#Anode Kα1【A】 Cryst.hkl2θ【°】
615002 | Cu | 1.54060 | Ge | 111 | 13.640 |
615004 | Cr | 2.28962 | Ge | 111 | 20.517 |
615006 | Fe | 1.93597 | Ge | 111 | 17.238 |
615008 | Co | 1.78892 | Ge | 111 | 15.893 |
615010 | Mo | 0.70926 | Ge | 220 | 10.212 |
615012 | Ag | 0.55936 | Ge | 220 | 8.038 |
615002 | Cu | 1.54060 | Ge | 111 | 13.640 |
615004 | Cr | 2.28962 | Ge | 111 | 20.517 |
615006 | Fe | 1.93597 | Ge | 111 | 17.238 |
615008 | Co | 1.79892 | Ge | 111 | 15.893 |
615010 | Mo | 0.70926 | Ge | 220 | 10.212 |
615012 | Ag | 0.55936 | Ge | 220 | 8.038 |
附件:
單色鏡
平面試樣旋轉裝置
X射線發(fā)生器
閉式循環(huán)冷水機
帶電源的X射線安全盒
適配670.31 CCD 的商用高溫計
適配670.2/5的目鏡照相機
G670的主要技術參數(shù):
計數(shù)點(max.):20001
2-Theta范圍 (max.) :100°
2-Theta 步長:0.005°
A/D 分辨率:16 Bit
動態(tài)范圍(multi-scan):~200000 counts
讀出時間:<5 sec
擦除時間:10 sec
焦圓半徑:90 mm.
硬件要求:
X射線光源:0.4*8 mm2垂直細線焦點
臺面以上橫梁高度:~275mm
桌面面積:~600*500mm2
19”機架,3個高度單位
該系統(tǒng)以Guinier高分辨率相機為主要核心組件,通過在此基礎上搭建不同配置組件的系統(tǒng),以響應客戶對不同條件下粉末試樣進行高精度測量的需求。
產品咨詢
聯(lián)系我們
北京培科創(chuàng)新技術有限公司 公司地址:北京石景山中海大廈CD座420室 技術支持:化工儀器網掃一掃 更多精彩
微信二維碼
網站二維碼